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통계자료의 내검기법 연구
통계청. 통계개발원
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| 자료유형 | 단행본 |
|---|---|
| 서명/저자사항 | 통계자료의 내검기법 연구 / 통계청; 통계개발원; 이의규; 심규호. |
| 단체저자명 | 통계청. 통계개발원 |
| 발행사항 | 한국 : 통계개발원 , 2009. |
| 형태사항 | 97 p. |
| 분류기호 | 310.113 |
| 언어 | 한국어 |
소장정보
목차
목차 일부
제1장 서문(01)
제2장 사업체 조사에서의 자동 오류위치포착의 적용방안(04)
제1절 서론(04)
1.연구배경 및 현황(05)
2.자동 에디팅의 필요성(07)
3.연구목적, 범위 및 한계(08)
제2절 해외의 자동 에디팅 시스템(09)
1.BANFF(09)
2.SPEER(11)
3.CHERRY PI(13)
4.TEIDE(14)
제3절 오류위치포착을 위한 ...
제2장 사업체 조사에서의 자동 오류위치포착의 적용방안(04)
제1절 서론(04)
1.연구배경 및 현황(05)
2.자동 에디팅의 필요성(07)
3.연구목적, 범위 및 한계(08)
제2절 해외의 자동 에디팅 시스템(09)
1.BANFF(09)
2.SPEER(11)
3.CHERRY PI(13)
4.TEIDE(14)
제3절 오류위치포착을 위한 ...
목차 전체
제1장 서문(01)
제2장 사업체 조사에서의 자동 오류위치포착의 적용방안(04)
제1절 서론(04)
1.연구배경 및 현황(05)
2.자동 에디팅의 필요성(07)
3.연구목적, 범위 및 한계(08)
제2절 해외의 자동 에디팅 시스템(09)
1.BANFF(09)
2.SPEER(11)
3.CHERRY PI(13)
4.TEIDE(14)
제3절 오류위치포착을 위한 주요 알고리즘(15)
1.내재적 내검규칙의 생성과 오류위치포착(16)
2.선형계획벅과 CHERNIKOVA 알고리즘(18)
제4절 자동 오류위치포착의 적용(21)
1.광업.제조업 통계조사의 개요(22)
2.4인 이하의 광업.제조업 통계조사의 내용 검토(25)
3.내재적 내검규칙의 생성과 프로그램 수행(29)
4.적용결과(33)
제5절 결론(45)
1.시사점(45)
2.기대효과 및 향후 과제(47)
제3장 그래픽 내검기법을 이용한 내검 효율성 제고(52)
제1절 서론(52)
1.연구의 배경 및 필요성(52)
2.연구의 목적 및 내용(53)
제2절 해외의 그래픽 내검 사례(53)
1.미국(54)
2.뉴질랜드(57)
3.스웨덴(58)
제3절 EDA와 HIDIROGLOU-BERTHELOT 방법(59)
1.EDA 방법(59)
2.HIDIROGLOU-BERTHELOT 방법(59)
제4절 광업.제조업 조사에 적용(64)
1.주요항목별 현.전 시점자료 간 산점도와 비(66)
2.특정지역의 현.전 시점자료 간 산점도와 특이치 검출(77)
제5절 결론(94)
제2장 사업체 조사에서의 자동 오류위치포착의 적용방안(04)
제1절 서론(04)
1.연구배경 및 현황(05)
2.자동 에디팅의 필요성(07)
3.연구목적, 범위 및 한계(08)
제2절 해외의 자동 에디팅 시스템(09)
1.BANFF(09)
2.SPEER(11)
3.CHERRY PI(13)
4.TEIDE(14)
제3절 오류위치포착을 위한 주요 알고리즘(15)
1.내재적 내검규칙의 생성과 오류위치포착(16)
2.선형계획벅과 CHERNIKOVA 알고리즘(18)
제4절 자동 오류위치포착의 적용(21)
1.광업.제조업 통계조사의 개요(22)
2.4인 이하의 광업.제조업 통계조사의 내용 검토(25)
3.내재적 내검규칙의 생성과 프로그램 수행(29)
4.적용결과(33)
제5절 결론(45)
1.시사점(45)
2.기대효과 및 향후 과제(47)
제3장 그래픽 내검기법을 이용한 내검 효율성 제고(52)
제1절 서론(52)
1.연구의 배경 및 필요성(52)
2.연구의 목적 및 내용(53)
제2절 해외의 그래픽 내검 사례(53)
1.미국(54)
2.뉴질랜드(57)
3.스웨덴(58)
제3절 EDA와 HIDIROGLOU-BERTHELOT 방법(59)
1.EDA 방법(59)
2.HIDIROGLOU-BERTHELOT 방법(59)
제4절 광업.제조업 조사에 적용(64)
1.주요항목별 현.전 시점자료 간 산점도와 비(66)
2.특정지역의 현.전 시점자료 간 산점도와 특이치 검출(77)
제5절 결론(94)
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